主控/芯片性能測試

    首先是主控能力測試和顆粒讀寫性能測試(數(shù)據(jù)不可壓縮)。

    閃存顆粒能力在208、143MB/S，即便在數(shù)據(jù)極端難以壓縮的條件下，也能發(fā)揮出強(qiáng)于機(jī)械硬盤的速度，而4KB隨機(jī)讀寫能力更是高達(dá)25、78MB/S，高出機(jī)械硬盤上百倍。